ICX41M倒置金相显微镜能不能与扫描电镜(SEM)联用?

2025-05-13
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2025-05-13

ICX41M倒置金相显微镜可与扫描电镜(SEM)联用,实现优势互补。先通过金相显微镜对样品进行宏观金相组织观察和初步分析,确定感兴趣的区域。然后,将样品转移至扫描电镜,对该区域进行高分辨率的微观形貌和成分分析。这种联用方式能够从宏观到微观多方面研究材料特性,普遍应用于材料失效分析、新材料研发等领域。

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