什么是温度测试？

优普士电子(深圳)有限公司

2023-08-28

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优普士电子(深圳)有限公司

2023-08-28

温度测试是对芯片在不同温度条件下的工作性能进行测试，以验证芯片在不同工作环境下的可靠性。优普士有高低温老化设备， FLA-6620AS 高温老化设备，是一款专门针对eMMC、UFS、eMCP…等颗粒存储芯片进行高温老化的设备。设备采用专业工控机和Windows系统控制，能够同时支持3360颗芯片同步老化测试，腔体可在产生高温的同时确保温度准确。 FLA-6620AS FLA-6620AS 高温老化设备，是一款专门针对eMMC、UFS、eMCP…等颗粒存储芯片进行高温老化的设备。设备采用专业工控机和Windows系统控制，能够同时支持3360颗芯片同步老化测试，腔体可在产生高温的同时确保温度准确。详细信息性能特点 1：温度准确，产品周边温度稳定控制在±3°内 2：升温速度快 3：可同时针对3360颗芯片进行老化测试 4：测试座单独可拔插替换式，方便更换与维护 5：预留MES 系统对接接口

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