增亮膜又叫棱镜片(PrismSheet)，常简称BEF(BrightnessEnhancementFilm)，为TFT-LCD背光模块中之关键零组件，主要是借由光的折射与反射原理，利用棱镜片修正光的方向，使光线正面集中，并将视角外未被利用的光线可以回收与利用，同时提升整体辉度与均匀度，达到增亮的效果，又称聚光片。复合型光学膜，主要是将原本聚光片的功能与扩散功能加以整合，如此将可减少使用1片扩散片，有利於下游厂商简化背光设计、节省工序、降低成本，同时亮度效率还可提升。对於光学膜厂商来说，虽然复合型增亮膜会取代传统聚光片(增亮膜)，但单价和利润都较佳。
狹缝:可 选择狭缝宽度(25um、 50um、100um、 200um )。日本大冢配向角测量仪推荐厂家
光学各向异性纤维素酯薄膜推荐具有_50至50 ran,更推荐-20至 20 nm的Re延迟值。
各向异性纤维素酯薄膜的Rth延迟值推荐是60-1,000 nm。
平面内的延迟值(Re)是平面内的双折射和薄膜厚度的乘积，并且 沿厚度的延迟值(Rth)是厚度方向的双折射与薄膜厚度的乘积。具体的 Re值可以通过将入射光(例如，从He-Ne激光器[波长：632.8 nm]发 出的光线)垂直施加到薄膜表面上的测定获得，并且具体的Rth值可 以通过入射光(例如，从He-Ne激光器[波长：632.8 nm]发出的光线) 倾斜施加到薄膜表面上的测定获得。在该测定中，使用偏振光椭圆率 测量仪(例如，M-150, JASCO公司)获得数据，然后外推得到这些延 迟值。
分别根据下式(1)和(2)计算平面内(Re)和沿厚度(Rth)的延迟值。
(1) Re = (nx-ny) x d
(2) Rth = [{(nx+ny)/2}-nz] x d。
在这些式中，nx是沿薄膜平面的慢轴的折光率，ny是沿薄膜平 面的快轴的折光率，nz是薄膜厚度方向的折光率，并且d是以nm计 的薄膜厚度。
日本大冢配向角测量仪推荐厂家测量波段可根据客户要求定制波段。
如果将纤维素酯薄膜浸泡在碱性溶液以便表面可以皂化至足够 提高薄膜和取向层之间的粘合，那么不仅目标表面而且其背对表面将 同时被皂化。因此，当由此处理的薄膜卷成卷时，上表面经常与卷的 下表面粘连。此外，用于皂化的浸泡过程几乎不能与施加亲水材料（例 如用于形成取向层的涂布液）的步骤同时进行，因此该浸泡过程必需 与用于形成取向层的涂布单独地进行。结果，皂化处理相对昂贵些。
另一方面，为了在纤维素酯薄膜上提供明胶-内涂层以提高薄膜 和取向层之间的粘合，通常使用用于形成内涂层的涂布液。该涂布液 含有易于使纤维素酯溶胀的溶剂（例如，酮），并因此经常损害薄膜表 面光滑度，尽管薄膜和取向层之间的粘合提高了。结果，在薄膜的纵 向易于出现条纹不匀性，并因此造成显示不匀性，从而在将该薄膜用 于液晶显示器时使显示的图象质量更差。
如上所述，纤维素酯薄膜和取向层之间的粘合有待进一步提高，这种提高不应带来其它的麻烦（例如，薄膜在卷中不粘连），同时薄膜 表面应保持光滑。
以PVA膜染色方法划分，偏光片有碘染色法和染料染色法两种工艺。碘染色法是指在偏光片染色、拉伸过程中，使用碘和碘化钾作为二向性介质使PVA膜产生极性化偏光特性。优点是比较容易获得99.9%以上的高偏光度和42%以上高透过率的偏光特性。所以在早期的偏光材料产品或需要高偏光、高透过特性的偏光材料产品中大多都采用碘染色工艺进行加工。但这种工艺的不足之处就是由于碘的分子结构在高温高湿的条件下易于破坏，因此使用碘染色工艺生产的偏光片耐久性较差，一般只能满足干温：80℃×500HR，湿热：60℃×90%RH×500HR以下的工作条件使用。但随着LCD产品范围的扩大，对偏光产品的湿热工作条件的要求越来越苛刻，已经出现在100℃和90%RH条件下工作的偏光片需求。对这种要求，碘染色工艺就无能为力了。倾斜旋转台规格:倾斜角度范围:一60° ~十60' **小角度: 0. 1。 旋转角度范旧: - 180° ~+ 180° 。
光学薄膜根据其用途分类、特性与应用可分为：反射膜、增透膜/减反射膜、滤光片、偏光片/偏光膜、补偿膜/相位差板、配向膜、扩散膜/片、增亮膜/棱镜片/聚光片、遮光膜/黑白胶等。相关衍生的种类有光学级保护膜、窗膜等。反射膜一般可分为两类，一类是金属反射膜，一类是全电介质反射膜。此外，还有将两者结合的金属电介质反射膜，功能是增加光学表面的反射率。一般金属都具有较大的消光系数。当光束由空气入射到金属表面时，进入金属内的光振幅迅速衰减，使得进入金属内部的光能相应减少，而反射光能增加。消光系数越大，光振幅衰减越迅速，进入金属内部的光能越少，反射率越高。人们总是选择消光系数较大，光学性质较稳定的金属作为金属膜材料。在紫外区常用的金属薄材料是铝，在可见光区常用铝和银，在红外区常用金、银和铜，此外，铬和铂也常作一些特种薄膜的膜料。由于铝、银、铜等材料在空气中很容易氧化而降低性能，所以必须用电介质膜加以保护。常用的保护膜材料有一氧化硅、氟化镁、二氧化硅、三氧化二铝等。轴角度测量范围：0°~180°。日本大冢配向角测量仪推荐厂家
专业性:光学博士团队合力研发，追求国产替代。日本大冢配向角测量仪推荐厂家
用语的定义：
偏光片：通过吸收轴和偏光轴只通过自然光中的一定波长的光
吸收轴：给通过自然光的垂直、水平光的波长的同时只吸收一定方向的光的轴
偏光轴：与吸收轴成垂直的方向，是使通过波长的光形成偏光的轴
慢轴、快轴角度定义：慢轴（快轴）与基准边的夹角
POL偏光度与透过率的曲线关系：POL的偏光度与透过率成反比，偏光度可以做到很高，接近**。透过率不可超过50%，原因：垂直方向，延吸收轴方 向的光全部吸收，剩下的50%还存在少量的反射、散射等。 日本大冢配向角测量仪推荐厂家